詳細摘要： 普通型半導體檢測TBM-330詳細技術參數一、儀器用途 普通型半導體檢測儀是檢測雙極型晶體管的基區寬度，半導體晶片的直徑、平整度、光潔度、表面污染、傷痕等，刻...
產品型號：所在地：上海更新時間：2024-10-16 在線留言
上海團結儀器制造有限公司
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詳細摘要： 普通型半導體檢測TBM-330詳細技術參數一、儀器用途 普通型半導體檢測儀是檢測雙極型晶體管的基區寬度，半導體晶片的直徑、平整度、光潔度、表面污染、傷痕等，刻...
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詳細摘要： 標準型半導體檢測TBM-600詳細技術參數一、儀器用途 TBM-600半導體檢測儀是檢測雙極型晶體管的基區寬度，半導體晶片的直徑、平整度、光潔度、表面污染、傷痕...
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詳細摘要： 高檔型半導體檢測TBM-800詳細技術參數一、儀器用途 TBM-800半導體檢測儀是檢測雙極型晶體管的基區寬度，半導體晶片的直徑、平整度、光潔度、表面污染、傷痕...
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詳細摘要： 實驗室半導體檢測TBM-900詳細技術參數一、儀器用途 TBM-900半導體檢測儀是檢測雙極型晶體管的基區寬度，半導體晶片的直徑、平整度、光潔度、表面污染、傷痕...
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